1 卧式按压测量，物理定位观察窗 X860分光密度仪采用低重心卧式设计，可以稳定的对被测表面进行测量。在测量的过程中可以通过观察窗 随时查看测量位置，避免测量位置错误。 2 提供印刷专用测量指标，助力用户高效调色色密度测量、网点面积测量、叠印率测量、印刷反差测量、 色调误差及灰度测量。

1 卧式按压测量，物理定位观察窗 X880分光密度仪采用低重心卧式设计，可以稳定的对被测表面进行测量。在测量的过程中可以通过观察窗 随时查看测量位置，避免测量位置错误。 2 提供印刷专用测量指标，助力用户高效调色色密度测量、网点面积测量、叠印率测量、印刷反差测量、 色调误差及灰度测量。

产品参数： 测量条件 ：SCI+SCE 重复性 ：≤0.01 口径 ：三口径 测量结构 D/8,SCI/SCE

产品参数： 测量结构： D/8,SCI+SCE 测量重复性： AE*ab≤0.01 显示精度 ：0.01 校准： 智能自动校准

产品参数： 测量结构： D/8,SCI+SCE 测量重复性： AE*ab≤0.02 显示精度 ：0.02 校准： 智能自动校准

产品参数： 测量结构： D/8，SCI 测量重复性： AE*ab≤0.03 显示精度 ：0.03 校准： 手动校准

产品参数： 测量结构： D/8，SCI 测量重复性： AE*ab≤0.04 显示精度 ：0.04 校准： 手动校准

产品参数： 测量条件 ：SCI+SCE 重复性 ：≤0.01 口径 ：三口径 测量结构 D/8,SCI/SCE

产品参数： 测量条件 ：SCI+SCE 重复性 ：≤0.02 口径 ：三口径 测量结构 D/8,SCI/SCE